其他仪器 其他 关注指数：[1385] 品牌：HIOKI
用作ICT用途
使用最新设计测试板对拼板进行同时高速测试
通过同公司内部网络进行连接,方便进行数据统一管理
支持HIOKI以前机种及其他品牌测试机的数据转换
用作功能测试用途
可选配功能测试专用板并同GP-IB控制的测试仪表相结合,进行简单的功能测试
用作单纯的合格品判断用途
可通过使用较少的测试点数,进行宏观检查判断
用作高速多通道测试仪用途
可进行保证系统整体的测试精度的测试
用作ICT用途
使用最新设计测试板对拼板进行同时高速测试
通过同公司内部网络进行连接,方便进行数据统一管理
支持HIOKI以前机种及其他品牌测试机的数据转换
用作功能测试用途
可选配功能测试专用板并同GP-IB控制的测试仪表相结合,进行简单的功能测试
用作单纯的合格品判断用途
可通过使用较少的测试点数,进行宏观检查判断
用作高速多通道测试仪用途
可进行保证系统整体的测试精度的测试
其他仪器 其他 关注指数：[1336] 品牌：HIOKI
1240-01: 大型基板的高速检查(Max40步/秒,510 x 610mm)
1240-02: 使用于测试IC引脚的虚焊(是代替1114的新型号)
1240-03: 中型基板的高速检查(Max40步/秒,400 x 330mm)
1240-01: 大型基板的高速检查(Max40步/秒,510 x 610mm)
1240-02: 使用于测试IC引脚的虚焊(是代替1114的新型号)
1240-03: 中型基板的高速检查(Max40步/秒,400 x 330mm)
其他仪器 其他 关注指数：[1314] 品牌：HIOKI
应用TDR方式对高速，高频率电路板进行特性阻抗测试
TDR(时间领域反射测试法): 是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段
最大测试基板面积600 × 500mm
测试头内置带宽40GHz高频率探针，可进行高精度，宽带宽的测试
使用镜头及激光变位仪保证高精度测试，X-Y-Z-θ轴自动对位
配备高精度标准阻抗校正板，对测试误差进行自动校正
应用TDR方式对高速，高频率电路板进行特性阻抗测试
TDR(时间领域反射测试法): 是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段
最大测试基板面积600 × 500mm
测试头内置带宽40GHz高频率探针，可进行高精度，宽带宽的测试
使用镜头及激光变位仪保证高精度测试，X-Y-Z-θ轴自动对位
配备高精度标准阻抗校正板，对测试误差进行自动校正
其他仪器 其他 关注指数：[941] 品牌：HIOKI
高精度步进检查方式同中央旋转台系统相结合,大幅度提高产能
标准配备4线式低阻测试机能,通过高精度微小电阻的测量检出盲埋孔的微开
高精度专用治具可保证对精细节距的IC载板进行测试
4线式低阻测试机能可测范围400μΩ～40mΩ
可测拼板尺寸Max.160 × 260mm
治具可测最大尺寸140 × 140mm
步进测试方式及自动光学对位可保证对精细节距焊盘的接触稳定性及最小扎痕
测试治具拆装,更换简单易行,基板承载盘为通用形式,适用于测试范围内的不同基板
高精度步进检查方式同中央旋转台系统相结合,大幅度提高产能
标准配备4线式低阻测试机能,通过高精度微小电阻的测量检出盲埋孔的微开
高精度专用治具可保证对精细节距的IC载板进行测试
4线式低阻测试机能可测范围400μΩ～40mΩ
可测拼板尺寸Max.160 × 260mm
治具可测最大尺寸140 × 140mm
步进测试方式及自动光学对位可保证对精细节距焊盘的接触稳定性及最小扎痕
测试治具拆装,更换简单易行,基板承载盘为通用形式,适用于测试范围内的不同基板
其他仪器 其他 关注指数：[51] 品牌：美国理想
测试项目
· 高亮度显示
· 高精度测量
· 真有效值测量
· 仿真5A, 8A, 10A负载，测量电压降
· 测量相（火线）电压
· 测量峰值电压
· 测量频率
· 测量中性线（零线）对地电压
· 测量地线阻抗
· 测量火线和中性线导体阻抗
· 识别插座接线正误
· 识别接地故障（虚接）
· 检测接地故障断路器、漏电保安器性能
· 在不影响敏感设备的情况下，进行传导测试
· 检验地线绝缘性能（需使用61-176适配器）
测试项目
· 高亮度显示
· 高精度测量
· 真有效值测量
· 仿真5A, 8A, 10A负载，测量电压降
· 测量相（火线）电压
· 测量峰值电压
· 测量频率
· 测量中性线（零线）对地电压
· 测量地线阻抗
· 测量火线和中性线导体阻抗
· 识别插座接线正误
· 识别接地故障（虚接）
· 检测接地故障断路器、漏电保安器性能
· 在不影响敏感设备的情况下，进行传导测试
· 检验地线绝缘性能（需使用61-176适配器）其他
