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IST6500型IC测试器

IST6500型存储器功能参数测试仪,在2NS基频下，提供四种方法自动测试存取时间 在2NS到160NS的各种器件（DRAM定时参数可编程提供1NS的基频）从而实现实时测试。兼备有高速双通道阈值比较器的可编程动态加载，允许用户编程DUT输出口负载，以达到一个宽的工作范围。这一特性在SIMN器件测试钟尤其重要，因为后者须经常驱动，大容量小电阻的负载。

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