数字毫欧表YF508◆量程:200mΩ/2 Ω/20 Ω/200 Ω/2K Ω/20K Ω

微阻计MO2001测量范围： 0.1mΩ-2000Ω.±0.75%

微电阻计3541 测量电阻 20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,最小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, 最小分辨率: 10μΩ

使用3个数字显示器可同时显示读值、HI Limit、LO Limit 读值使用4 1/2位大型(0.5英吋)七段显示器 使用4 1/2位模拟数字转换器提供高准确度的量测

MO2002桌上型微阻计测量范围：0.01m~20K奥姆

XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻

●快速,准确测量表面和对地电阻 ●轻便易用,便于操作 ●10个LCD显示测试结果 测试范围:10E3～10E12 Ω/sq 测量精确度:±10%

特点： * 采用精密、低功耗运算放大器比较、解算，发光二极管显示。 * 灵敏度高，使用可靠。 * 体积小，重量轻，耗电少。 * 便携式设计，携带方便。

ST-20掌上型方块电阻测试仪,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻

ST-21型方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻，单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。

SRM-232型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。 SRM-232型方块电阻测试仪根据不同的测量范围分成以下四种型号：SRM-232-10、SRM-232-100、SRM-232-1000、SRM-232-2000

最大5A的测试电流 · 四线式的量测法 · 7个档位(16mΩ到6KΩ) · 最佳解析度1μΩ · 准确度0.05％ · 可测试电感性的电阻 · 附带电线长度量测功能